An ultra-thin bendable Si-monolithic imaging test sensor

Dogiamis, Georgios; Häfner, Joachim; Mokwa, Wilfried; Hosticka, Bedrich J.; Grabmaier, Anton

Piscataway, NJ : IEEE (2013)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2013 Transducers & Eurosensors XXVII : the 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems ; Barcelona, Spain, 16 - 20 June 2013 / [IEEE Electron Devices Society]
Seite(n)/Artikel-Nr.: 964-967