A Temperature Independent Readout Circuit for ISFET-Based Sensor Applications

Moussavi, Elmira (Corresponding author); Sisejkovic, Dominik (Corresponding author); Singh, Animesh (Corresponding author); Kizatov, Daniyar (Corresponding author); Leupers, Rainer (Corresponding author); Ingebrandt, Sven (Corresponding author); Pachauri, Vivek (Corresponding author); Merchant, Farhad (Corresponding author)

Piscataway, NJ] : IEEE (2022)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 23rd IEEE Latin-American Test Symposium : Montevideo, Uruguay, 5th-8th September 2022 / LATS 2022 ; technical sponsors: the Institute of Electrical and Electronics Engineering Inc, Test Technology Technical Council

Einrichtungen

• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik I und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611510]
• Lehrstuhl für Software für Systeme auf Silizium [611910]
• Lehrstuhl für Mikro- und Nanosysteme und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [612510]