CMOS Transistors under Uniaxial Stress on Ultra-Thin Chips for Applications in Bendable Image Sensors

Häfner, Joachim; Dogiamis, Georgios; Mokwa, Wilfried; Hosticka, Bedrich J.; Grabmaier, Anton

Berlin [u.a.] : VDE-Verl. (2012)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: PRIME 2012 : 8th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics & Electronics, 12 - 15 Juni 2012, Aachen, Germany / [General Chairs: Stefan Heinen ...]
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Einrichtungen

• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik I und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611510]