Note: Characterization of electrode materials for dielectric spectroscopy

Malleo, Daniele; Nevill, J. Tanner; van Ooyen, André; Schnakenberg, Uwe; Lee, Luke P.; Morgan, Hywel

Melville, NY : AIP (2010)
Fachzeitschriftenartikel

In: Review of scientific instruments : RSI
Band: 81
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 016104

Einrichtungen

• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik I und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611510]