Characterization of electroplated nickel

Fritz, Thomas Michael (Corresponding author); Cho, H. S.; Hemker, K. J.; Mokwa, Wilfried; Schnakenberg, Uwe

Berlin [u.a.] : Springer (2002)
Fachzeitschriftenartikel

In: Microsystem technologies
Band: 9
Heft: 1/2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 87-91

Einrichtungen

• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik I und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611510]