Material characterisation of electroplated nickel structures for microsystem technology

Fritz, Thomas Michael; Mokwa, Wilfried; Schnakenberg, Uwe

New York, NY [u.a.] : Elsevier (2001)
Fachzeitschriftenartikel

In: Electrochimica acta
Band: 47
Heft: 1/2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 55-60

Einrichtungen

• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik I und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611510]